铄思百检测

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射电子显微镜（TEM-EDS）扫描电子显微镜（FESEM-EDS）球差电镜激光共聚焦显微镜（LSCM）原子力显微镜（AFM）电子探针仪（EPMA)金相显微镜电子背散射衍射仪（EBSD）台阶仪，膜厚仪，探针接触式轮廓仪，3D轮廓仪工业CT白光干涉仪（非接触式3D表面轮廓仪）电镜测试FIB制样离子减薄制样冷冻超薄切片制样树脂包埋制样（生物制样）液氮脆断制样金网钼网铜网超薄碳膜微栅制样电镜制样X射线光电子能谱分析仪（XPS）紫外光电子能谱（UPS）俄歇电子能谱（AES）X射线衍射仪（XRD）X射线散射仪SAXS/WAXSX射线残余应力分析仪X射线荧光光谱分析仪（XRF）电感耦合等离子体光谱仪（ICP-OES）紫外可见反射仪（DRS）拉曼光谱（RAMAN）紫外-可见分光光度计（UV）圆二色谱（CD）傅里叶变换红外光谱分析仪（FTIR）吡啶红外（DRIFTS）单晶衍射仪穆斯堡尔光谱仪稳态瞬态荧光光谱分析仪（PL）原子吸收分光光度计原子荧光光度计（AFS)三维荧光 /荧光分光光度计红外热成像仪雾度仪旋光仪椭偏仪光谱测试电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）电喷雾离子化质谱仪（ESI-MS）顶空-固相微萃取气质联用仪（HS -SPME -GC -MS）二次离子质谱（SIMS）基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪（MALDI-TOF）裂解气质联用仪（PY-GC-MS）气质联用仪（GC-MS）同位素质谱仪液质联用仪（LC-MS）质谱测试差示扫描量热仪（DSC）热重分析仪（TGA）热分析联用仪（DSC-TGA）静态/动态热机械分析仪（TMA/DMA）热重红外联用仪（TG-IR）热重红外质谱联用仪（TG-IR-MS）热重红外气相质谱联用（TG-IR-GC-MS）红外热成像仪激光导热仪锥形量热仪（CONE)热谱测试电子顺磁共振波谱仪（EPR、ESR）固体核磁共振仪（NMR）液体核磁共振仪（NMR）微波网络矢量分析仪/矢量网络分析仪核磁顺磁波谱测试比表面及孔径分析仪（BET）表面张力仪（界面张力仪）高压吸附仪化学吸附仪（TPD TPR）接触角测量仪纳米压痕仪压汞仪（MIP）表界面物性测试气相色谱仪（GC）高效液相色谱仪（HPLC）离子色谱仪（IC）凝胶色谱仪（GPC）液相色谱（LC）色谱测试电导率仪电化学工作站腐蚀测试仪介电常数测定仪卡尔费休水分测定仪自动电位滴定仪电化学仪器测试Zeta电位仪工业分析激光粒度仪流变仪密度测定仪纳米粒度仪邵氏 维氏 洛氏硬度计有机卤素分析仪（F，Cl，Br，I，At，Ts)有机元素分析仪（EA）粘度计振动样品磁强计（VSM）土壤分析测试植物分析测试其他测试同步辐射GIWAXS GISAXS同步辐射XRD，PDF，SAXS同步辐射吸收谱-高能机时同步辐射吸收谱之软X射线同步辐射吸收谱之硬X射线同步辐射聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）矿物定量分析系统MLA球差校正透射电子显微镜高端电镜类原位XPS测试原位EBSD（in situ -EBSD)原位红外原位扫描电子显微镜（in-situ-SEM)原位透射电子显微镜高端原位测试飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）辉光放电光谱（GD-OES MS）三维原子探针（APT）高端质谱类Micro/Nano /工业CT飞秒瞬态吸收光谱仪（fs-TAS)扫描隧道显微镜深能级瞬态谱仪正电子湮灭寿命谱仪其他XPS数据分析XRD全岩黏土分析表面成分分析技术-XPS测试分析常规XRD数据分析成分指纹分析技术-红外测试分析二维红外光谱技术红外（IR）数据分析拉曼数据分析三维荧光数据分析圆二色谱（CD）数据分析成分含量分析EPR/ESR数据分析VSM数据分析电化学数据分析矢量网络数据分析电磁分析CT数据分析X射线吸收精细结构普（XAFS）数据分析穆斯堡尔谱数据分析小角散射（SAXS/WAXS）数据分析高端测试分析固体核磁数据分析液体核磁（NMR）测试+分析一体化液体核磁（NMR）数据分析化学结构分析EBSD数据分析TEM数据分析单晶XRD数据分析晶体结构确证技术-XRD精修XRD定性定量分析晶体结构分析BET数据分析其它数据分析需求热分析数据处理数据分析作图其他数据分析常规理化-水样常规理化-土样/沉积物常规理化-气体常规理化-植物/蔬果/农作物常规理化-食品常规理化-肥料/饲料常规理化-岩矿常规理化-垃圾常规理化-职业卫生常规理化-其它常规理化项目纤维素、半纤维素、木质素含量bcr形态顺序提取/tessier五步提取法土壤水体抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸（PLFA）非标理化-其它非标理化项目稳定同位素放射性同位素同位素-其它金属同位素同位素多糖的单糖组成测定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化学-常规指标糖化学液质联用LCMS高效液相色谱HPLC气相色谱GC气质联用GCMS全二维气质GC×GC-MS气相色谱-离子迁移谱联用仪（GC-IMS）液相色谱-原子荧光联用（LC-AFS)制备型HPLC色谱质谱数据分析液相色谱-电感耦合等离子体质谱（LC-ICPMS）色谱质谱DOM（FT- ICR- MS）水质NOM(LC-OCD-OND)DOM（FT-ICR-MS）数据分析环境高端电池产品整体解决方案正极颗粒表面微观形貌正极颗粒物截面形貌与元素三元正极颗粒循环前后晶界裂纹正极颗粒掺杂元素分布正极颗粒截面元素分布和晶格表征正极极片原位晶相分析正极极片截面元素分布和晶格表征正极表面CEI膜测试方法XPS正极极片截面微观形貌观察和元素分布正极极片CEI膜成分分析与厚度测定正极极片介电常数正极极片浸润性正极极片包覆层观察正极极片杂质含量测定正极极片氧空位测定负极颗粒表面微观形貌观察和元素分布负极颗粒截面微观形貌观察和元素分布石墨类型判定负极颗粒粒径分析负极极片孔洞分析负极颗粒包覆层观察负极颗粒羟基含量测定负极极片包覆层观察负极表面SEI膜分析XPS法负极极片SEI膜成分分析与厚度测定负极极片截面微观形貌观察和元素分布负极极片石墨碳和无定型碳比例隔膜表面微观形貌观察隔膜循环前后孔径变化质子交换膜形貌（厚度）观察 CP+SEM质子交换膜杂质元素电池循环后鼓包气电池循环后爆炸气锂电池极片和集流体间的粘结强度三元正极材料NCM比例燃料电池-整体解决方案电池产品-隔膜电池产品-优势项目正极材料-PH值正极材料-比表面积正极材料-磁性异物正极材料-化学成分正极材料-晶体结构正极材料-粒径分布正极材料-首次放电比容量及首次库伦效率正极材料-水分含量正极材料-松装密度正极材料-未知物分析正极材料-形貌，厚度与结构正极材料-压实密度正极材料-振实密度电池产品-正极材料负极材料-PH值负极材料-比表面积负极材料-层间距 石墨化度负极材料成分分析负极材料-磁性异物负极材料-粉末压实密度负极材料-固定碳含量负极材料-化学成分负极材料-粒径分布负极材料-石墨鉴定负极材料-水分负极材料-限用物质含量负极材料-形貌与结构负极材料-阴离子的测定负极材料-有机物含量负极材料-真密度负极材料-振实密度负极颗粒-石墨取向性（OI值）首次放电比容量及首次库伦效率电池产品-负极材料电解液-电导率电解液-化学元素含量电解液-密度电解液-水分含量电解液-未知物分析电解液-游离酸（HF含量）电池产品-电解液电池产品-隔膜电池产品-隔膜
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电镜测试
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HRTEM-1
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HRTEM-3
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二氧化钛纳米管5万倍放大图片
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二氧化钛纳米管10万倍放大图片
二氧化钛纳米管10万倍放大图片
稀土掺杂多元素纳米粉体EDS谱图
稀土掺杂多元素纳米粉体EDS谱图
稀土掺杂多元素纳米粉体EDS面分布MAPPING图
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铝基体-氧化物膜-树脂镶嵌样品EDS线扫描图
铝基体-氧化物膜-树脂镶嵌样品EDS线扫描图
硫-铜-掺杂碳材料EDS面分布图
硫-铜-掺杂碳材料EDS面分布图
钴酸镍XRD图-有效去除了荧光背底-检测出了微量相
钴酸镍XRD图-有效去除了荧光背底-检测出了微量相
0Xi下Pt元素窄扫图
0Xi下Pt元素窄扫图
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   武汉铄思百检测技术有限公司是华中地区领先的第三方权威检测机构，与武汉众多高校师生及其分析测试中心有交流合作。业务主要为：金属材料检测，无机材料检测，纳米粉体，薄膜，陶瓷等材料检测,以及相关材料的化学分析微观分析，及相关冶金材料检测。公司承接企业材料测试，一来为广大中小企业提供测试技术支撑平台，二来为各高校的科研工作者提供专业的测试服务。目前已和众多高校课题组签订了测试合作协议，同时与耐火材料公司、废水处理试剂公司及钢铁冶金公司等签订合作协议。


   武汉铄思百检测技术有限公司坚持“恪守信誉、质量第一、客户第一”的经营理念，追求专业化发展道路，用我们的专业化服务帮助客户创造更高的价值。

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科研测试
新闻公告
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测试仪器
软件分析教程

07

2021-07

粒度检测报告怎么看?
粒度检测报告怎么看?1.测试范围是什么?所测粒径的区域。2.粒径是什么?颗粒的直径叫做粒径，一般以微米或纳米为单位来表示粒径大小。3.什么是等效粒径?粉体颗粒不可能是完美的球形，所以当一个颗粒的某一物理特性与同质球形颗粒相同或相近时，我们就用该球形颗粒的直径来代表这个实际颗粒的直径。为什么要用等效粒径概念?由于实际颗粒的形状通常为非球形的，因此难以直接用粒径这个值来表示其大小，而直径又是描述...

09

2022-02

开工大吉，铄思百检测所有业务已全面开启
尊敬的新老客户：新年好！终于迎来了期盼已久的开工时间，从今天开始（正月初九，2月9日）铄思百检测已经正式上班，开始接受样品啦！衷心感谢各位对我公司一如既往的支持和信赖，2022年愿我们携手并进，共创辉煌。恭祝各位老师，同学：新年快乐，阖家欢乐，身体健康！武汉铄思百检测技术有限公司2022年2月09日

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2020-09

X射线光电子能谱(XPS)
什么是X射线光电子能谱(XPS)？随着对高性能材料需求的不断增长，表面工程也显得越来越重要。材料的表面是材料与外部环境以及与其它材料相互作用的位置，因此只有了解材料层表面处或界面处的物理和化学相互作用，才能解决许多与现代材料相关的问题。表面...

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2019-09

TEM样品制备方法图文详解
要想得到好的TEM结果，首先要制备出好的薄膜样品，TEM样品制备在电子显微学研究中起着非常重要的作用。传统的常规制备方法很多，例如：化学减薄、电解双喷、解理、超薄切片、粉碎研磨、聚焦离子束、机械减薄、

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2019-09

透射电镜(TEM测试)基本原理
透射电镜(TEM)基本原理Transmissim Electnonic Microscopy        铄思百检测可提供透射电镜测试服务，透射电镜基本构造与光学显微镜相似，主要由光源、物镜和投影镜三部分组成，只不过用电子束代替光束，用磁...

09

2022-02

开工大吉，铄思百检测所有业务已全面开启
尊敬的新老客户：新年好！终于迎来了期盼已久的开工时间，从今天开始（正月初九，2月9日）铄思百检测已经正式上班，开始接受样品啦！衷心感谢各位对我公司一如既往的支持和信赖，2022年愿我们携手并进，共创辉煌。恭祝各位老师，同学：新年快乐，阖家欢乐，身体健康！武汉铄思百检测技术有限公司2022年2月09日

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2020-06

关于铄思百测试流程的说明
铄思百测试服务工作，测试流程如下：所有送样人，请先在联系客服（通过QQ或电话）预约好相应的仪器，填写样品及纸质版样品测试说明单（样品测试清单网站下载，或QQ联系客服获取），请寄样人一定认真填写，尤其是个人信息，电话和测试条件要求，以便测试工...

01

2021-06

习近平：全力攻坚科学仪器、化学试剂等关键核心技术攻坚
5月28日，中国科学院第二十次院士大会、中国工程院第十五次院士大会和中国科学技术协会第十次全国代表大会在北京人民大会堂隆重召开。中共中央总书记、国家主席、中央军委主席习近平出席大会并发表重要讲话。各位院士，同志们，朋友们：　　今天，中国科学院第二十次院士大会、中国工程院第十五次院士大会和中国科协第十次全国代表大会隆重开幕了。这是我们在“两个一百年”奋斗目标的历史交汇点、开启全面建设社会主义现...

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2020-09

铄思百检测祝各位老师，同学，科研工作者教师节快乐！
2020年注定是不平凡的一年，面对疫情的肆虐，美国的打压，需要坚持科教兴国，教育新邦。在此教师节之际，铄思百检测向各位老师，同学，科研工作者们致以诚挚的敬意，祝你们教师节快乐！！！铄思百检测将继续为您提供一站式检测服务，谢谢您！

04

2020-09

铄思百检测-武汉分析测试中心-检测项目表
铄思百检测实验室属于科学研究检测实验室，对外提供材料检测试服务。3-7个工作日左右出具测试检测数据。铄思百检测实验室设备先进，为高校及企业提供科学研究的试验方案和强大的服务支持，支持全国各地上门取样/寄样测试服务。光谱测试：X射线光电子能谱
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文章列表
比表面积计算公式|铄思百检测
比表面积测试方法
二次离子质谱（SIMS）检测
BET测试：评估材料比表面积和孔隙结构的有力工具
透射电镜形貌和高分辨之间的关系
BET物理吸附常见问题(二)
aes测试主要测什么
【必看】18种常见检测仪器送样要求
如何利用bjh方法测量孔径分布的大小
文章列表

12/16

2019

测试仪器：EA有机元素分析仪
测试仪器之EA有机元素分析仪 前言：简单、精确且经济高效地对碳、氢、氮、硫及氧元素进行定量分析。EA有机元素分析仪...

12/16

2019

测试仪器：扫描电子显微镜（SEM）
测试仪器之扫描电子显微镜前言： 　　扫描电镜（SEM）已经成为材料表征时所广泛使用的强有力工具。而且因为不同应用中...

12/16

2019

测试仪器：X射线光电子能谱仪（XPS）
测试仪器之X射线光电子能谱仪‍X射线光电子能谱仪（XPS）简介：X射线光电子能谱仪，简称：XPS,是一种表面分析技...

12/13

2019

测试仪器：紫外光电子能谱（UPS）
紫外光电子能谱（UPS）一、UPS功能原理和应用1、UPS技术基本原理介绍　　对于光电子能谱而言，大家比较熟悉的X...
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06

2023-09

xps数据怎么校正全谱
XPS数据分析时，为什么通常会采用污染碳（284.8ev）来校正？样品中本身含碳，测试XPS数据又该如何校正？武汉铄思百检测小编整理了一些资料，希望能帮到大家。先简单了解一下XPS是什么？X射线光电子能谱（XPS）是一种表面分析技术，常规测试分析深度通常在10nm左右，可以分析样品表面元素及其化学态信息。比如样品中含Al元素。通过XPS测试，不光可以定性识别出Al元素，而且还能具体分析出Al...

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2022-12

基线的确定与扣除方法是什么【Origin绘图教程】
在数据处理的过程中经常会遇到需要进行基线扣除、寻峰、分峰拟合的情况，特别是做XPS数据处理的时候~下图就是经过一系列步骤处理之后得到的图。初始图vs处理后本期要的教程是如何做出上图的第一步：如何做基线的确定与扣除这里小编用到的是Origin自带的示例数据（因为不是做电化学的，没有XPS数据拿给你们啦），我们看到示例数据中是没有扣除基线直接进行分峰拟合了，不过觉得还是扣掉基线更美观。首先，第一...

07

2022-12

怎么分析BET图【全面详细】
怎么分析BET图？bet数据各代表什么？BET数据怎么看？今天铄思百检测小编带来了详细的BET报告解读分析，希望能帮到大家。物理吸附提供了测定催化剂表面积、平均孔径及孔径分布的方法（一般而言指N2吸脱附实验）。在进行氮气吸脱附表征的时候一般会给出如下数据：氮气吸脱附曲线（Nitrogen adsorption-desorption isotherm），孔容（pore volume），孔径分布...

06

2022-12

XPS数据处理分析教程
如何对xps数据进行分析处理？今天铄思百检测小编就拿到的EXCEL的数据，来讲解一下XPS简单处理数据的过程，这里使用XPSpeaks软件。XPSpeaks分峰拟合第一步：将数据转换为txt格式具体操作：将荷电校正过之后的数据Excel打开，复制Binding Energy和Counts，然后拷贝到一个新建的txt文件中。关键点：第一行要直接以数据开始，最后一行以数据结束，不能有空行或其他文...

06

2022-12

origin如何画三维图形
Origin不仅可以绘制二维的平面图形，还可以将数据以三维图形的方式呈现。一般而言有两种做法，其一是将数据表中的数据列进行标注，使其形成X-Y-Z三组列数据，这样绘制的三维图是3D XYZ Scatter形式，对应于二维图中的散点图；其二是利用矩阵表(Matrix)来实现3D Surface数据的三维图形化，绘制出的图是三维曲面形式。1、3D XYZ相对而言，对数据列标记的方式比较容易。我们...
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