铄思百检测

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射电子显微镜(TEM-EDS)扫描电子显微镜(FESEM-EDS)球差电镜激光共聚焦显微镜(LSCM)原子力显微镜(AFM)电子探针仪(EPMA)金相显微镜电子背散射衍射仪(EBSD)台阶仪,膜厚仪,探针接触式轮廓仪,3D轮廓仪工业CT白光干涉仪(非接触式3D表面轮廓仪)电镜测试FIB制样离子减薄制样冷冻超薄切片制样树脂包埋制样(生物制样)液氮脆断制样金网钼网铜网超薄碳膜微栅制样电镜制样X射线光电子能谱分析仪(XPS)紫外光电子能谱(UPS)俄歇电子能谱(AES)X射线衍射仪(XRD)X射线散射仪SAXS/WAXSX射线残余应力分析仪X射线荧光光谱分析仪(XRF)电感耦合等离子体光谱仪(ICP-OES)紫外可见反射仪(DRS)拉曼光谱(RAMAN)紫外-可见分光光度计(UV)圆二色谱(CD)傅里叶变换红外光谱分析仪(FTIR)吡啶红外(DRIFTS)单晶衍射仪穆斯堡尔光谱仪稳态瞬态荧光光谱分析仪(PL)原子吸收分光光度计原子荧光光度计(AFS)三维荧光 /荧光分光光度计红外热成像仪雾度仪旋光仪椭偏仪光谱测试电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)电喷雾离子化质谱仪(ESI-MS)顶空-固相微萃取气质联用仪(HS -SPME -GC -MS)二次离子质谱(SIMS)基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪(MALDI-TOF)裂解气质联用仪(PY-GC-MS)气质联用仪(GC-MS)同位素质谱仪液质联用仪(LC-MS)质谱测试差示扫描量热仪(DSC)热重分析仪(TGA)热分析联用仪(DSC-TGA)静态/动态热机械分析仪(TMA/DMA)热重红外联用仪(TG-IR)热重红外质谱联用仪(TG-IR-MS)热重红外气相质谱联用(TG-IR-GC-MS)红外热成像仪激光导热仪锥形量热仪(CONE)热谱测试电子顺磁共振波谱仪(EPR、ESR)固体核磁共振仪(NMR)液体核磁共振仪(NMR)微波网络矢量分析仪/矢量网络分析仪核磁顺磁波谱测试比表面及孔径分析仪(BET)表面张力仪(界面张力仪)高压吸附仪化学吸附仪(TPD TPR)接触角测量仪纳米压痕仪压汞仪(MIP)表界面物性测试气相色谱仪(GC)高效液相色谱仪(HPLC)离子色谱仪(IC)凝胶色谱仪(GPC)液相色谱(LC)色谱测试电导率仪电化学工作站腐蚀测试仪介电常数测定仪卡尔费休水分测定仪自动电位滴定仪电化学仪器测试Zeta电位仪工业分析激光粒度仪流变仪密度测定仪纳米粒度仪邵氏 维氏 洛氏硬度计有机卤素分析仪(F,Cl,Br,I,At,Ts)有机元素分析仪(EA)粘度计振动样品磁强计(VSM)土壤分析测试植物分析测试其他测试同步辐射GIWAXS GISAXS同步辐射XRD,PDF,SAXS同步辐射吸收谱-高能机时同步辐射吸收谱之软X射线同步辐射吸收谱之硬X射线同步辐射聚焦离子束扫描电镜(FIB-SEM)矿物定量分析系统MLA球差校正透射电子显微镜高端电镜类原位XPS测试原位EBSD(in situ -EBSD)原位红外原位扫描电子显微镜(in-situ-SEM)原位透射电子显微镜高端原位测试飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)辉光放电光谱(GD-OES MS)三维原子探针(APT)高端质谱类Micro/Nano /工业CT飞秒瞬态吸收光谱仪(fs-TAS)扫描隧道显微镜深能级瞬态谱仪正电子湮灭寿命谱仪其他XPS数据分析XRD全岩黏土分析表面成分分析技术-XPS测试分析常规XRD数据分析成分指纹分析技术-红外测试分析二维红外光谱技术红外(IR)数据分析拉曼数据分析三维荧光数据分析圆二色谱(CD)数据分析成分含量分析EPR/ESR数据分析VSM数据分析电化学数据分析矢量网络数据分析电磁分析CT数据分析X射线吸收精细结构普(XAFS)数据分析穆斯堡尔谱数据分析小角散射(SAXS/WAXS)数据分析高端测试分析固体核磁数据分析液体核磁(NMR)测试+分析一体化液体核磁(NMR)数据分析化学结构分析EBSD数据分析TEM数据分析单晶XRD数据分析晶体结构确证技术-XRD精修XRD定性定量分析晶体结构分析BET数据分析其它数据分析需求热分析数据处理数据分析作图其他数据分析常规理化-水样常规理化-土样/沉积物常规理化-气体常规理化-植物/蔬果/农作物常规理化-食品常规理化-肥料/饲料常规理化-岩矿常规理化-垃圾常规理化-职业卫生常规理化-其它常规理化项目纤维素、半纤维素、木质素含量bcr形态顺序提取/tessier五步提取法土壤水体抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非标理化-其它非标理化项目稳定同位素放射性同位素同位素-其它金属同位素同位素多糖的单糖组成测定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化学-常规指标糖化学液质联用LCMS高效液相色谱HPLC气相色谱GC气质联用GCMS全二维气质GC×GC-MS气相色谱-离子迁移谱联用仪(GC-IMS)液相色谱-原子荧光联用(LC-AFS)制备型HPLC色谱质谱数据分析液相色谱-电感耦合等离子体质谱(LC-ICPMS)色谱质谱DOM(FT- ICR- MS)水质NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)数据分析环境高端电池产品整体解决方案正极颗粒表面微观形貌正极颗粒物截面形貌与元素三元正极颗粒循环前后晶界裂纹正极颗粒掺杂元素分布正极颗粒截面元素分布和晶格表征正极极片原位晶相分析正极极片截面元素分布和晶格表征正极表面CEI膜测试方法XPS正极极片截面微观形貌观察和元素分布正极极片CEI膜成分分析与厚度测定正极极片介电常数正极极片浸润性正极极片包覆层观察正极极片杂质含量测定正极极片氧空位测定负极颗粒表面微观形貌观察和元素分布负极颗粒截面微观形貌观察和元素分布石墨类型判定负极颗粒粒径分析负极极片孔洞分析负极颗粒包覆层观察负极颗粒羟基含量测定负极极片包覆层观察负极表面SEI膜分析XPS法负极极片SEI膜成分分析与厚度测定负极极片截面微观形貌观察和元素分布负极极片石墨碳和无定型碳比例隔膜表面微观形貌观察隔膜循环前后孔径变化质子交换膜形貌(厚度)观察 CP+SEM质子交换膜杂质元素电池循环后鼓包气电池循环后爆炸气锂电池极片和集流体间的粘结强度三元正极材料NCM比例燃料电池-整体解决方案电池产品-隔膜电池产品-优势项目正极材料-PH值正极材料-比表面积正极材料-磁性异物正极材料-化学成分正极材料-晶体结构正极材料-粒径分布正极材料-首次放电比容量及首次库伦效率正极材料-水分含量正极材料-松装密度正极材料-未知物分析正极材料-形貌,厚度与结构正极材料-压实密度正极材料-振实密度电池产品-正极材料负极材料-PH值负极材料-比表面积负极材料-层间距 石墨化度负极材料成分分析负极材料-磁性异物负极材料-粉末压实密度负极材料-固定碳含量负极材料-化学成分负极材料-粒径分布负极材料-石墨鉴定负极材料-水分负极材料-限用物质含量负极材料-形貌与结构负极材料-阴离子的测定负极材料-有机物含量负极材料-真密度负极材料-振实密度负极颗粒-石墨取向性(OI值)首次放电比容量及首次库伦效率电池产品-负极材料电解液-电导率电解液-化学元素含量电解液-密度电解液-水分含量电解液-未知物分析电解液-游离酸(HF含量)电池产品-电解液电池产品-隔膜电池产品-隔膜
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活动价1800.00
电子背散射EBSD
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仪器型号  nordlysnano


服务周期  收到样品后平均5-7工作日完成
图文展示

电子背散射EBSD

u设备型号

nordlysnano

样品准备须知!!!

1,可以直接做EBSD数据采集的样品的基本要求:样品能产生计算机可以识别且能正确标定的菊池衍射花样、表面平整、清洁、无残余应力、导电性良好、尺寸合适,数据采集处理需提供样品中各相的物相以及晶体结构及原子占位信息,元素种类等,以及晶体学信息:晶体学数据库,ICCD,或者皮尔斯手册,再就是XRD标定用的PDF卡片里面。若不符合直接测试要求,需要选择合适的制样方法。

2,样品尺寸要求:形状规整,尺寸不宜太大,长<10mm,宽<10mm,厚度<5mm,测试面需要表面光滑,没有明显划痕。其他特殊需求请联系当地项目经理。

3,样品的制备条件参考:

金属样品:机械抛光+化学侵蚀(硬度较高、原子序数大);机械抛光+电解抛光(纯金属/第二相细小的合金);

金属基复合材料:同上或者氩离子抛光(抛光区域较小,一般800*800微米左右)

陶瓷样品:机械抛光、 氩离子抛光

4,测试面需要标记清楚,如需要特殊区域定位,请附上SEM图片或者光学图片给出具体定位信息;

5,寄送样品请固定好样品,测试面不要触碰到任何表面,避免表面划伤!!!

6,送样前请一定跟工程师(15071040697确认后再下单


样品测试填写要求注意事

1.样品数量填写需要测试样品的数量

2.样品编号(名称)请输入该组样品编号,以逗号分隔,例如1,2,3

3.样品组分及原始状态示例:样品为镍基高温合金(Ni-Cr-Co-Al-Ti),状态为退火态。

4.样品类型金属样品/金属基复合材料/陶瓷样品/其他(请详细说明)

5.试样大小(长宽高)必填

6.试样形状与观察面例如:1#样品(Inconel617)∶待观察平面(抛光面),长边为17mm,短边为7mm。沿7mm方向为轧向(RD),沿17mm方向为轧面法向(ND),大面法线为横向(TD)。(可提供简图)

是否需要制样:需要制样/无需制样,直接测

无需制样,直接测:若无需实验室制样,请自行终抛出可直接上机测试的样品; 若需实验室制样,请自行用2000号砂纸磨样。

如需要制样请选择制样方式:电解抛光/振动抛光/氩离子抛光

氩离子抛光一般区域较小(800*800微米左右区域);制样面即后面的数据采集面,如需处理多个面,请分组添加样品,并在测试单中描述清楚。

采集区域个数600元/视图(一般采集时间半小时内,超时后根据具体情况收取费用),每个视图指一个区域一个倍数下,如果一个区域需要多个倍数,则为多个视图,视图大小一般为微米级,区域越大,采集时间越长,最大区域一般<1mm,如采集时间、步长等有要求,请提前联系工程师15071040697)确定。

想要得到的数据极图/反极图//取向成像图取向分布函数图(ODF)/取向差分布图/晶粒寸分布图/相图/花样质量图/晶界/其他/

需要提供的其他信息

1. 物相晶体学信息及占位信息(是否有CIF文件)

晶体学信息:

占位信息:

2. 扫描要求(最好附上相应的SEM照片,确定数据采集区域大小/标尺/放大倍数/选区个数)

3. 数据处理要求(请提供参考图)



电子背散射EBSD

项目简介


EBSD具体分析功能:

1,微观组织分析:晶粒尺寸、均匀性、孪晶的体积分数、再结晶晶粒以及亚晶、晶界特性分析、相鉴定、相分布等;

2,取向分析:相邻晶粒的取向分析,晶粒和相邻孪晶的取向分析,孪晶以及相邻孪晶的取向分析,织构分析,取向差分析等。


样品要求


1.可以直接做EBSD数据采集的样品的基本要求:样品能产生计算机可以识别且能正确标定的菊池衍射花样、表面平整、清洁、无残余应力、导电性良好、尺寸合适,数据采集处理需提供样品中各相的物相以及晶体结构及原子占位信息,元素种类等,以及晶体学信息:晶体学数据库,ICCD,或者皮尔斯手册,再就是XRD标定用的PDF卡片里面。若不符合直接测试要求,需要选择合适的制样方法。

2.样品尺寸要求:形状规整,尺寸不易太大,长:<8mm,宽<8mm,厚度<3mm左右,测试面需要表面光滑,没有明显划痕。若尺寸较大,请提前线切割好,若需要我们线切割,请联系工程师


结果展示




u项目简介


1. OIM analysis中如何将schmidt map颜色映射到反极图中

原文链接:EBSD数据分析教程——OIM analysis中如何将schmidt map颜色映射到反极图中



u测试提示:

1.可开正规测试发票,附带测试清单。

2.有腐蚀性,毒性,或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员,测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤,测试后会对样品产生哪些变化;

3.客户需提供详细的样品资料,包括元素,主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论,商定最终测试条件;

4.测试人员与顾客通过QQ,微信或邮件沟通,出现测试纠纷,邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据;请加QQ和技术人员交流。QQ:82187958。微信:15071040697

5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品,一经发现将追究其法律责任。



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