铄思百检测

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射电子显微镜（TEM-EDS）扫描电子显微镜（FESEM-EDS）球差电镜激光共聚焦显微镜（LSCM）原子力显微镜（AFM）电子探针仪（EPMA)金相显微镜电子背散射衍射仪（EBSD）台阶仪，膜厚仪，探针接触式轮廓仪，3D轮廓仪工业CT白光干涉仪（非接触式3D表面轮廓仪）电镜测试FIB制样离子减薄制样冷冻超薄切片制样树脂包埋制样（生物制样）液氮脆断制样金网钼网铜网超薄碳膜微栅制样电镜制样X射线光电子能谱分析仪（XPS）紫外光电子能谱（UPS）俄歇电子能谱（AES）X射线衍射仪（XRD）X射线散射仪SAXS/WAXSX射线残余应力分析仪X射线荧光光谱分析仪（XRF）电感耦合等离子体光谱仪（ICP-OES）紫外可见反射仪（DRS）拉曼光谱（RAMAN）紫外-可见分光光度计（UV）圆二色谱（CD）傅里叶变换红外光谱分析仪（FTIR）吡啶红外（DRIFTS）单晶衍射仪穆斯堡尔光谱仪稳态瞬态荧光光谱分析仪（PL）原子吸收分光光度计原子荧光光度计（AFS)三维荧光 /荧光分光光度计红外热成像仪雾度仪旋光仪椭偏仪光谱测试电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）电喷雾离子化质谱仪（ESI-MS）顶空-固相微萃取气质联用仪（HS -SPME -GC -MS）二次离子质谱（SIMS）基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪（MALDI-TOF）裂解气质联用仪（PY-GC-MS）气质联用仪（GC-MS）同位素质谱仪液质联用仪（LC-MS）质谱测试差示扫描量热仪（DSC）热重分析仪（TGA）热分析联用仪（DSC-TGA）静态/动态热机械分析仪（TMA/DMA）热重红外联用仪（TG-IR）热重红外质谱联用仪（TG-IR-MS）热重红外气相质谱联用（TG-IR-GC-MS）红外热成像仪激光导热仪锥形量热仪（CONE)热谱测试电子顺磁共振波谱仪（EPR、ESR）固体核磁共振仪（NMR）液体核磁共振仪（NMR）微波网络矢量分析仪/矢量网络分析仪核磁顺磁波谱测试比表面及孔径分析仪（BET）表面张力仪（界面张力仪）高压吸附仪化学吸附仪（TPD TPR）接触角测量仪纳米压痕仪压汞仪（MIP）表界面物性测试气相色谱仪（GC）高效液相色谱仪（HPLC）离子色谱仪（IC）凝胶色谱仪（GPC）液相色谱（LC）色谱测试电导率仪电化学工作站腐蚀测试仪介电常数测定仪卡尔费休水分测定仪自动电位滴定仪电化学仪器测试Zeta电位仪工业分析激光粒度仪流变仪密度测定仪纳米粒度仪邵氏 维氏 洛氏硬度计有机卤素分析仪（F，Cl，Br，I，At，Ts)有机元素分析仪（EA）粘度计振动样品磁强计（VSM）土壤分析测试植物分析测试其他测试同步辐射GIWAXS GISAXS同步辐射XRD，PDF，SAXS同步辐射吸收谱-高能机时同步辐射吸收谱之软X射线同步辐射吸收谱之硬X射线同步辐射聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）矿物定量分析系统MLA球差校正透射电子显微镜高端电镜类原位XPS测试原位EBSD（in situ -EBSD)原位红外原位扫描电子显微镜（in-situ-SEM)原位透射电子显微镜高端原位测试飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）辉光放电光谱（GD-OES MS）三维原子探针（APT）高端质谱类Micro/Nano /工业CT飞秒瞬态吸收光谱仪（fs-TAS)扫描隧道显微镜深能级瞬态谱仪正电子湮灭寿命谱仪其他XPS数据分析XRD全岩黏土分析表面成分分析技术-XPS测试分析常规XRD数据分析成分指纹分析技术-红外测试分析二维红外光谱技术红外（IR）数据分析拉曼数据分析三维荧光数据分析圆二色谱（CD）数据分析成分含量分析EPR/ESR数据分析VSM数据分析电化学数据分析矢量网络数据分析电磁分析CT数据分析X射线吸收精细结构普（XAFS）数据分析穆斯堡尔谱数据分析小角散射（SAXS/WAXS）数据分析高端测试分析固体核磁数据分析液体核磁（NMR）测试+分析一体化液体核磁（NMR）数据分析化学结构分析EBSD数据分析TEM数据分析单晶XRD数据分析晶体结构确证技术-XRD精修XRD定性定量分析晶体结构分析BET数据分析其它数据分析需求热分析数据处理数据分析作图其他数据分析常规理化-水样常规理化-土样/沉积物常规理化-气体常规理化-植物/蔬果/农作物常规理化-食品常规理化-肥料/饲料常规理化-岩矿常规理化-垃圾常规理化-职业卫生常规理化-其它常规理化项目纤维素、半纤维素、木质素含量bcr形态顺序提取/tessier五步提取法土壤水体抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸（PLFA）非标理化-其它非标理化项目稳定同位素放射性同位素同位素-其它金属同位素同位素多糖的单糖组成测定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化学-常规指标糖化学液质联用LCMS高效液相色谱HPLC气相色谱GC气质联用GCMS全二维气质GC×GC-MS气相色谱-离子迁移谱联用仪（GC-IMS）液相色谱-原子荧光联用（LC-AFS)制备型HPLC色谱质谱数据分析液相色谱-电感耦合等离子体质谱（LC-ICPMS）色谱质谱DOM（FT- ICR- MS）水质NOM(LC-OCD-OND)DOM（FT-ICR-MS）数据分析环境高端电池产品整体解决方案正极颗粒表面微观形貌正极颗粒物截面形貌与元素三元正极颗粒循环前后晶界裂纹正极颗粒掺杂元素分布正极颗粒截面元素分布和晶格表征正极极片原位晶相分析正极极片截面元素分布和晶格表征正极表面CEI膜测试方法XPS正极极片截面微观形貌观察和元素分布正极极片CEI膜成分分析与厚度测定正极极片介电常数正极极片浸润性正极极片包覆层观察正极极片杂质含量测定正极极片氧空位测定负极颗粒表面微观形貌观察和元素分布负极颗粒截面微观形貌观察和元素分布石墨类型判定负极颗粒粒径分析负极极片孔洞分析负极颗粒包覆层观察负极颗粒羟基含量测定负极极片包覆层观察负极表面SEI膜分析XPS法负极极片SEI膜成分分析与厚度测定负极极片截面微观形貌观察和元素分布负极极片石墨碳和无定型碳比例隔膜表面微观形貌观察隔膜循环前后孔径变化质子交换膜形貌（厚度）观察 CP+SEM质子交换膜杂质元素电池循环后鼓包气电池循环后爆炸气锂电池极片和集流体间的粘结强度三元正极材料NCM比例燃料电池-整体解决方案电池产品-隔膜电池产品-优势项目正极材料-PH值正极材料-比表面积正极材料-磁性异物正极材料-化学成分正极材料-晶体结构正极材料-粒径分布正极材料-首次放电比容量及首次库伦效率正极材料-水分含量正极材料-松装密度正极材料-未知物分析正极材料-形貌，厚度与结构正极材料-压实密度正极材料-振实密度电池产品-正极材料负极材料-PH值负极材料-比表面积负极材料-层间距 石墨化度负极材料成分分析负极材料-磁性异物负极材料-粉末压实密度负极材料-固定碳含量负极材料-化学成分负极材料-粒径分布负极材料-石墨鉴定负极材料-水分负极材料-限用物质含量负极材料-形貌与结构负极材料-阴离子的测定负极材料-有机物含量负极材料-真密度负极材料-振实密度负极颗粒-石墨取向性（OI值）首次放电比容量及首次库伦效率电池产品-负极材料电解液-电导率电解液-化学元素含量电解液-密度电解液-水分含量电解液-未知物分析电解液-游离酸（HF含量）电池产品-电解液电池产品-隔膜电池产品-隔膜
TEM
XPS
SEM
FIB
AFM
TG
设为首页 | 收藏本站
活动价 ￥160.00起
立即预约
紫外-可见分光光度计（UV）
----------------------------------------------
仪器型号  PE950

服务周期  收到样品后平均3-5工作日完成

项目简介

紫外-可见分光光度计是基于紫外可见分光光度法原理，利用物质分子对紫外可见光谱区的辐射吸收来进行分析的一种分析仪器。紫外可见分光光度计的应用非常广泛，可以用于化学、生物、医学等领域的研究中，例如测量蛋白质的浓度、DNA、RNA、叶绿素等重要的生物分子的吸收光谱等。

样品要求

1、样品需要透光；

2、薄膜样品尺寸要大于 1cm*1cm；
在线客服
 
 
 黄工
 工作时间
周一至周六 ：8:00-18:00
 联系方式
客服-黄工：150 7104 0697
客服-刘工：18120219335