铄思百检测

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

u项目简介

可做项目：质谱、面扫、深度剖析。

TOF-SIMS的数据的纵坐标是计数，是强度，不同离子的产额不同，产额高的谱峰强，并不代表含量高，简单说就是强度和含量没有什么直接关系；

u样品要求

深度剖析一般是块体样品；粉末一般做质谱或者面扫，液体，生物细胞等样品可以冷冻干燥后测试，设备无法直接测试液体样品。

u结果展示

1、质谱+分析

质谱测试：只给出校正后的图片和TXT数据。

质谱+数据处理：会给出校正后的图片和所有的离子谱峰归属列表。

2、面扫+分析

导出客户指定离子的 MAPPING, 所有离子统一用Thermal
颜色:右边的色标可以看出黑色是分布没有的区域，黄色白色是分布较多的区域；

3、深度剖析+数据分析

仪器型号1：TOF-SIMS 5 iontof--快递交替模式--深度剖析

深度曲线-相对应的3D图

u结果展示

1. 质谱测试正负离子模式是什么？

TOF-SIMS是采用初级离子源（Bi源）入射样品的表面激发出材料里的离子，通常给样品加不同偏压分别采集正离子或负离子，金属离子主要在正离子模式产额比较高，而电负性元素如O\OH\F\Cl\S\N\Br等在负离子模式产额高，如果组分有金属氧化物，比如NiO, 那一定会在正离子模式产生Ni原子离子，以及NixOy的分子离子，而负离子模式一定有O原子离子，同时也有NixOy的分子离子，当然在正离子模式下大多数情况 x>y, 负离子模式下x<y,
这个案例中也有NiOH这样的离子，说明有可能有氢氧化物存在。

2. tof-sims可以看含量不？？应该怎么做？

正常TOF-SIMS是看不了含量的，数据横坐标是M/Z，纵坐标是强度/计数。理由如下：强度与含量是没有直接关系的。首先，同种基材不同离子的产额不同，产额高的谱峰强度高，但并不代表含量高，也就是说谱峰强弱与含量没有直接对应关系，如果要定量必须选用与测试样品基体效应相同的标准样品，得到灵敏度因子才可以定量！第二，同种离子在不同基体材料中的离子产额也不同，所以同一样品不同离子谱峰强度与含量无关，同种离子在不同材料中的谱峰强弱也与含量无关，只有同种材料的不同样品中的同种离子可以比较，谱峰强度高代表含量高。做深度溅射曲线可以看随深度方向，分子片段的相对变化趋势。

3. 测试的是同样一个位置吗？

质谱和mapping默认测试是同样一个位置，深度剖析正负离子是不同位置。

u测试提示：

1.可开正规测试发票，附带测试清单。

2.有腐蚀性，毒性，或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员，测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤，测试后会对样品产生哪些变化；

3.客户需提供详细的样品资料，包括元素，主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论，商定最终测试条件；

4.测试人员与顾客通过QQ，微信或邮件沟通，出现测试纠纷，邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据；请加QQ和技术人员交流。QQ：82187958。微信：15071040697

5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品，一经发现将追究其法律责任。