铄思百检测

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射电子显微镜(TEM-EDS)扫描电子显微镜(FESEM-EDS)球差电镜激光共聚焦显微镜(LSCM)原子力显微镜(AFM)电子探针仪(EPMA)金相显微镜电子背散射衍射仪(EBSD)台阶仪,膜厚仪,探针接触式轮廓仪,3D轮廓仪工业CT白光干涉仪(非接触式3D表面轮廓仪)电镜测试FIB制样离子减薄制样冷冻超薄切片制样树脂包埋制样(生物制样)液氮脆断制样金网钼网铜网超薄碳膜微栅制样电镜制样X射线光电子能谱分析仪(XPS)紫外光电子能谱(UPS)俄歇电子能谱(AES)X射线衍射仪(XRD)X射线散射仪SAXS/WAXSX射线残余应力分析仪X射线荧光光谱分析仪(XRF)电感耦合等离子体光谱仪(ICP-OES)紫外可见反射仪(DRS)拉曼光谱(RAMAN)紫外-可见分光光度计(UV)圆二色谱(CD)傅里叶变换红外光谱分析仪(FTIR)吡啶红外(DRIFTS)单晶衍射仪穆斯堡尔光谱仪稳态瞬态荧光光谱分析仪(PL)原子吸收分光光度计原子荧光光度计(AFS)三维荧光 /荧光分光光度计红外热成像仪雾度仪旋光仪椭偏仪光谱测试电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)电喷雾离子化质谱仪(ESI-MS)顶空-固相微萃取气质联用仪(HS -SPME -GC -MS)二次离子质谱(SIMS)基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪(MALDI-TOF)裂解气质联用仪(PY-GC-MS)气质联用仪(GC-MS)同位素质谱仪液质联用仪(LC-MS)质谱测试差示扫描量热仪(DSC)热重分析仪(TGA)热分析联用仪(DSC-TGA)静态/动态热机械分析仪(TMA/DMA)热重红外联用仪(TG-IR)热重红外质谱联用仪(TG-IR-MS)热重红外气相质谱联用(TG-IR-GC-MS)红外热成像仪激光导热仪锥形量热仪(CONE)热谱测试电子顺磁共振波谱仪(EPR、ESR)固体核磁共振仪(NMR)液体核磁共振仪(NMR)微波网络矢量分析仪/矢量网络分析仪核磁顺磁波谱测试比表面及孔径分析仪(BET)表面张力仪(界面张力仪)高压吸附仪化学吸附仪(TPD TPR)接触角测量仪纳米压痕仪压汞仪(MIP)表界面物性测试气相色谱仪(GC)高效液相色谱仪(HPLC)离子色谱仪(IC)凝胶色谱仪(GPC)液相色谱(LC)色谱测试电导率仪电化学工作站腐蚀测试仪介电常数测定仪卡尔费休水分测定仪自动电位滴定仪电化学仪器测试Zeta电位仪工业分析激光粒度仪流变仪密度测定仪纳米粒度仪邵氏 维氏 洛氏硬度计有机卤素分析仪(F,Cl,Br,I,At,Ts)有机元素分析仪(EA)粘度计振动样品磁强计(VSM)土壤分析测试植物分析测试其他测试同步辐射GIWAXS GISAXS同步辐射XRD,PDF,SAXS同步辐射吸收谱-高能机时同步辐射吸收谱之软X射线同步辐射吸收谱之硬X射线同步辐射聚焦离子束扫描电镜(FIB-SEM)矿物定量分析系统MLA球差校正透射电子显微镜高端电镜类原位XPS测试原位EBSD(in situ -EBSD)原位红外原位扫描电子显微镜(in-situ-SEM)原位透射电子显微镜高端原位测试飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)辉光放电光谱(GD-OES MS)三维原子探针(APT)高端质谱类Micro/Nano /工业CT飞秒瞬态吸收光谱仪(fs-TAS)扫描隧道显微镜深能级瞬态谱仪正电子湮灭寿命谱仪其他XPS数据分析XRD全岩黏土分析表面成分分析技术-XPS测试分析常规XRD数据分析成分指纹分析技术-红外测试分析二维红外光谱技术红外(IR)数据分析拉曼数据分析三维荧光数据分析圆二色谱(CD)数据分析成分含量分析EPR/ESR数据分析VSM数据分析电化学数据分析矢量网络数据分析电磁分析CT数据分析X射线吸收精细结构普(XAFS)数据分析穆斯堡尔谱数据分析小角散射(SAXS/WAXS)数据分析高端测试分析固体核磁数据分析液体核磁(NMR)测试+分析一体化液体核磁(NMR)数据分析化学结构分析EBSD数据分析TEM数据分析单晶XRD数据分析晶体结构确证技术-XRD精修XRD定性定量分析晶体结构分析BET数据分析其它数据分析需求热分析数据处理数据分析作图其他数据分析常规理化-水样常规理化-土样/沉积物常规理化-气体常规理化-植物/蔬果/农作物常规理化-食品常规理化-肥料/饲料常规理化-岩矿常规理化-垃圾常规理化-职业卫生常规理化-其它常规理化项目纤维素、半纤维素、木质素含量bcr形态顺序提取/tessier五步提取法土壤水体抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非标理化-其它非标理化项目稳定同位素放射性同位素同位素-其它金属同位素同位素多糖的单糖组成测定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化学-常规指标糖化学液质联用LCMS高效液相色谱HPLC气相色谱GC气质联用GCMS全二维气质GC×GC-MS气相色谱-离子迁移谱联用仪(GC-IMS)液相色谱-原子荧光联用(LC-AFS)制备型HPLC色谱质谱数据分析液相色谱-电感耦合等离子体质谱(LC-ICPMS)色谱质谱DOM(FT- ICR- MS)水质NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)数据分析环境高端电池产品整体解决方案正极颗粒表面微观形貌正极颗粒物截面形貌与元素三元正极颗粒循环前后晶界裂纹正极颗粒掺杂元素分布正极颗粒截面元素分布和晶格表征正极极片原位晶相分析正极极片截面元素分布和晶格表征正极表面CEI膜测试方法XPS正极极片截面微观形貌观察和元素分布正极极片CEI膜成分分析与厚度测定正极极片介电常数正极极片浸润性正极极片包覆层观察正极极片杂质含量测定正极极片氧空位测定负极颗粒表面微观形貌观察和元素分布负极颗粒截面微观形貌观察和元素分布石墨类型判定负极颗粒粒径分析负极极片孔洞分析负极颗粒包覆层观察负极颗粒羟基含量测定负极极片包覆层观察负极表面SEI膜分析XPS法负极极片SEI膜成分分析与厚度测定负极极片截面微观形貌观察和元素分布负极极片石墨碳和无定型碳比例隔膜表面微观形貌观察隔膜循环前后孔径变化质子交换膜形貌(厚度)观察 CP+SEM质子交换膜杂质元素电池循环后鼓包气电池循环后爆炸气锂电池极片和集流体间的粘结强度三元正极材料NCM比例燃料电池-整体解决方案电池产品-隔膜电池产品-优势项目正极材料-PH值正极材料-比表面积正极材料-磁性异物正极材料-化学成分正极材料-晶体结构正极材料-粒径分布正极材料-首次放电比容量及首次库伦效率正极材料-水分含量正极材料-松装密度正极材料-未知物分析正极材料-形貌,厚度与结构正极材料-压实密度正极材料-振实密度电池产品-正极材料负极材料-PH值负极材料-比表面积负极材料-层间距 石墨化度负极材料成分分析负极材料-磁性异物负极材料-粉末压实密度负极材料-固定碳含量负极材料-化学成分负极材料-粒径分布负极材料-石墨鉴定负极材料-水分负极材料-限用物质含量负极材料-形貌与结构负极材料-阴离子的测定负极材料-有机物含量负极材料-真密度负极材料-振实密度负极颗粒-石墨取向性(OI值)首次放电比容量及首次库伦效率电池产品-负极材料电解液-电导率电解液-化学元素含量电解液-密度电解液-水分含量电解液-未知物分析电解液-游离酸(HF含量)电池产品-电解液电池产品-隔膜电池产品-隔膜
设为首页 | 收藏本站
预约详情

扫描电子显微镜SEM

 
价格
0.00
预约详情


请下载:送样请附带“委托测试单”。SEM测试要求模板(附件)

扫描电子显微镜SEM

u设备型号

热场:SEM(蔡司Zeiss sigma300Zeiss Geminisem 300

EDS(牛津 OxfordX-MAX

冷场:日立SU8230


u样品准备须知!!!

1、此链接预约下单拍摄不开视频,若需要安排SEM现场/云现场,请下单SEM现场/云现场

2、粉末、液体、薄膜、块体均可。粉末10mg,块体样品直径≤1cm,厚度<1cm,样品质量不超过200g,味道很大,易挥发的样品需提前跟工程师联系确定是否能做,测试过程中会升华堵住光澜,损坏仪器;

3 混凝土,珊瑚沙,气凝胶,水凝胶,木材等需要抽真空时间非常长的样品尺寸请尽可能直径≤5mm,厚度≤5mm,送样前请一定跟工程师确认后再下单;

4 需要脆断的样品,尺寸需要≥2*2cm,厚度<0.5cm,较厚的样品建议尺寸准备大些;如果需要特殊制样的样品,比如打磨、腐蚀,下单前务必与工程师沟通确认。

5、矿物,树脂镶嵌类样品等需看不同相分布用背散射模式拍摄请提前工程师说明,,须注意背散分辨率没有常规二次电子探头高

6导电性不好或强磁样品建议选择喷金,如果样品由于您要求不喷金而导致效果不好,测试老师可能不好安排复测;实验室常用靶材是纯金(Au)、纯铂(Pt)、金钯合金(Au/Pd),需要能谱时待测元素不能与靶材重合,对靶材有特殊需求请联系工程师

7 请务必仔细检查您的样品,若发现以弱磁强磁充当非磁 或者 以强磁充当弱磁非磁,我们将可能无法安排您的实验,不承担以此造成的时间和样品损失;而且因隐瞒样品信息导致仪器损坏,可能需要您承担全部赔偿责任

8.块体测试如需同时拍摄表面和截面,需要分组预约,按两个样品收费,请务必标记清楚测试面。

9.一般测试时会尽量选择低电压进行拍摄,若对工作电压有特殊要求,请提前备注。

10. 默认图片分辨率为1024*768,分辨率影响扫描所用时间,若有其他分辨率要求,请具体说明,实验室根据具体要求调整收费。

11.不接受客户自己制好的样品,(比如铜网、硅片,玻璃,薄膜,或掉渣样,熔点低于100度的样品),一定是不能进行拍摄,需要客户提供样品成分,证明样品没有磁性,样品我们处理粘牢,熔点过低的样品不能测。(含有易挥发的元素如卤素,P,S,有机物等易挥发和熔点低的样品,要判断后再安排测试)


u样品测试填写要求注意事项

1.样品数量填写需要测试样品的数量

2.样品编号(名称)请输入该组样品编号,以逗号分隔,例如1,2,3

3.样品稳定性样品如果不稳定如:易掉易分解易氧化易吸潮易融化,或者其他情况,请在此备注说明。不稳定样品请注意密封,并提前与工程师沟通!

4.样品成分请务必写清楚样品成分,对于液体样品,注明溶剂,尤其是有毒、有害、有腐蚀性的溶剂

5.样品形态样品的不同形态也需在此说明,液体备注溶剂成分和浓度,块体请备注测试面,测试面的反面请问标签纸画X并同时注意样品的尺寸及厚度,薄膜注意标记测试面如果厚度和尺寸超过规定大小,请与工程师联系。粉末样品需要保持干燥,生物样品需要提前处理。

6.样品是否具有放射性如果样品有放射性元素请在此备注。

7.是否含有S、F、Cl、I、Br、Hg、P等元素 如果含有这些元素请在此备注,并注明含量。

8.样品是否有磁性如果吸铁石吸起来,且不含磁性元素铁钴镍,则为非磁样品。如果吸铁石吸起来,含有磁性元素铁钴镍,则为弱磁样品。如果吸铁石吸得起来,无论是否含有磁性元素,均为强磁样品。

9.是否需要喷金导电性不好或强磁样品必须喷金,否则无法拍摄。

实验室常用靶材是纯金(Au)、纯铂(Pt)、金钯合金(Au/Pd),需要能谱时待测元素不能与靶材重合,对靶材有特殊需求请联系工程师

10.测试模式有两种:二次电子背散射(BSE)背散射模式和二次电子模式为二选一模式测试,只提供一种测试模式下的测试结果!常规看样品形貌选二次电子,表面光滑的矿物、树脂镶嵌类块体样品需看不同相分布的可以选背散,其产额与样品原子序数呈递增关系,原子序数越大背散射电子越多,探头接收到的信号越强,反映在图像上就越亮,须注意分辨率没有常规二次电子探测器高。

11.测试内容(可多选):形貌、能谱点扫、能谱线扫、Mapping

形貌必选(每样提供8-10张图片左右)!能谱点扫能得到元素半定量数据(一个样正常打1个点,最多打2个点,超出需额外收费),线扫和mapping如需元素半定量数据请备注清楚(默认只测1个区域,超出需要额外收费)。正常能谱只能分析C及后面的元素!

12. 形貌拍摄目的/重点: 请说明形貌拍摄的具体要求(例如:主要关注多孔结构或层状结构)。

13. 形貌具体拍摄放大倍数/标尺要求: 放大倍数理论可选范围为150倍-10W倍,高倍下拍摄可能不清晰,具体效果和样品实际情况相关。

如果需要与之前的订单或样品进行对比,建议保持标尺一致,具体可咨询负责工程师

14. 请描述打点能谱的位置、检测元素及具体要求说明打点能谱的位置要求,放大倍数。下单前请务必确定样品元素信息,非磁样品默认不含有磁性元素,即能谱不测铁,钴,镍,锰等磁性元素

15. 请描述打线能谱的位置、检测元素及具体要求说明打线能谱的位置要求,放大倍数

下单前请务必确定样品元素信息,非磁样品默认不含有磁性元素,即能谱不测铁,钴,镍,锰等磁性元素

16. 请描述mapping的位置、检测元素及具体要求:下单前请务必确定样品元素信息,非磁样品默认不含有磁性元素,即能谱不测铁,钴,镍,锰等磁性元素请描述mapping需要测试的位置及具体要求
说明打mapping的位置要求,放大倍数,以及需要测定的元素,如果对元素颜色有指定请备注清楚。

17.mapping是否需要元素半定量结果:需要请备注,未备注默认不提供。

18.请务必根据测试要求给出相应的参考图参考图的参数尽量展示出来,如:电压,标尺,放大倍数,模式等。请尽可能提供参考图(SEM形貌参考图能谱点扫/线扫参考图
mapping参考图
),类似材料文献上的图也行,工程师会尽量找寻所相似位置进行拍摄,如果不提供,工程师只能根据经验和实际情况来拍摄,后续可能不太好安排复测。




uSEM样品制样图示




扫描电镜制样-改.jpg抛光镶嵌-改.jpg


u测试提示:

1.可开正规测试发票,附带测试清单。

2.有腐蚀性,毒性,或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员,测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤,测试后会对样品产生哪些变化;

3.客户需提供详细的样品资料,包括元素,主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论,商定最终测试条件;

4.测试人员与顾客通过QQ,微信或邮件沟通,出现测试纠纷,邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据;请加QQ和技术人员交流。QQ:82187958。微信:15071040697

5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品,一经发现将追究其法律责任。



在线客服
 
 
 工作时间
周一至周六 :8:00-18:00
 联系方式
客服-黄工:150 7104 0697
客服-刘工:18120219335