正极极片CEI膜成分分析与厚度测定

样品测试填写要求注意事项

1.样品数量：填写需要测试样品的数量

2.样品编号：请输入该组样品编号，以逗号分隔，例如1,2,3

3. 样品信息

4. 产品类型：

5. 特殊要求：

正极极片CEI膜成分分析与厚度测定

项目简介

项目介绍

CEI对高电压和高容量正极材料的电化学性能有显著影响，但由于CEI组成和结构的复杂性容易受到电解质溶剂/添加剂和电池测试条件的影响，尚未建立详细的CEI形成机理。在不同的电压，循环过程中CEI膜的组成成分以及厚度会发生相应的改变，导致电化学性能的改变，可以从CEI膜角度来分析电化学性能。TOF-SIMS具有超真空环境测试，采集深度低，检测出限低，测试范围广，能分析空间分布的特点，适用于此类样品研究。

适用范围

正极极片CEI膜

方法简述

通过TOF-SIMS探测样品表面溢出的荷电离子或离子团，同时对原子离子和元素分布进行成像，深度溅射探测样品元素与离子团的纵向分布、CEI膜的厚度等进行分析。

测试结果

1）提供表面一个位置的正负谱质谱图；

2）提供一个表面区域面扫2D mapping，扫描区域为： 100μm*100μm或50μm*50μm；

3）提供深度刻蚀曲线（负离子模式），采集三维深度分布图（负离子模式），深度刻蚀面积：400um*400um 溅射时间为20min；

样品要求

正极极片长宽1.1cm以内，厚度5mm以内，不能太大，小一些没有问题。

常见问题

1. 注意事项

1）TOF测试1-2nm的信息，对表面测试非常灵敏，会因包装问题导出样品表面污染测试出污染的信息，最好用铝箔纸包装；

2）样品在超高真空下必须稳定，无腐蚀性，无电解液残留。

测试提示：

1.可开正规测试发票，附带测试清单。

2.有腐蚀性，毒性，或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员，测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤，测试后会对样品产生哪些变化；

3.客户需提供详细的样品资料，包括元素，主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论，商定最终测试条件；

4.测试人员与顾客通过QQ，微信或邮件沟通，出现测试纠纷，邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据；请加QQ和技术人员交流。QQ：82187958。微信：15071040697

5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品，一经发现将追究其法律责任。