正极极片截面元素分布和晶格表征

样品准备须知！！！

使用铝箔袋真空密封,避免样品吸水及污染。

样品测试填写要求注意事项

1.样品数量：填写需要测试样品的数量

2.样品编号：请输入该组样品编号，以逗号分隔，例如1,2,3

3. 样品信息

4. 产品类型：镍酸锂、钴酸锂、锰酸锂、镍钴铝酸锂、富锂锰基正极材料、镍钴铝三元素复合氢氧化物、四氧化三钴、炭复合磷酸铁锂正极、电池级碳酸锂、其他

5. 特殊要求：

正极极片截面元素分布和晶格表征

项目简介

项目介绍

高镍、钴层状氧化物等正极材料常掺杂Mn、Al、B等元素，掺杂后的正极材料可提高材料的循环可逆性、增加其可逆容量、提升锂离子扩散动力学性能，能够在一定程度上改变晶格的性质，增强晶格稳定性、电子导电性、锂离子嵌脱动力学性能等。循环后的正极颗粒表面晶格发生改变，通过表征掺杂元素的晶格和衍射分析，探究掺杂提高材料表界面结构稳定性的机理。

适用范围

钴酸锂、锰酸锂、磷酸铁锂、镍酸锂、三元、硅酸铁锂、磷酸锰锂、硫酸氟铁锂等正极材料。

方法简述

取微量样品直接粘到导电胶上，利用聚焦离子束FIB进行透射载网制样，放进透射电子显微镜（TEM) 或球差透射电子显微镜（STEM）拍摄样品形貌和晶格条纹。

测试结果

1）提供一张截面整体透射形貌图；

2）提供3张截面放大图，图片包含有3-5个径向排列的一次颗粒，选择区域标尺在100-200 nm左右，提供晶界高分辨成像图3张，图片包含晶界处的晶格条纹；

3）提供2张高分辨细节形貌图放大图，选择区域标尺5-10nm拍出晶界处的晶格条纹；

4）提供对晶界处的晶格条纹再放大，选择区域标尺1nm；

5）提供2张STEM-HAADF照片，拍晶界处晶格条纹3张，选择区域标尺在10-100 nm左右；

6）如有其他条件，请随时告诉我们。

样品要求

样品量：建议送样量为100毫克，如果样品较少，则大约50毫克也可以进行拍摄；样品颗粒大于5μm；

样品状态：干燥，样品稳定，不易挥发，无毒。

常见问题

1. 可能的风险点

1）拍摄图像偏模糊

2）mapping能谱出现部分样品颗粒周围偏暗，没有扫出来的情况

3）放大倍数选择不合适

4）FIB制样后拍摄TEM可能有窗帘效应

测试提示：

1.可开正规测试发票，附带测试清单。

2.有腐蚀性，毒性，或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员，测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤，测试后会对样品产生哪些变化；

3.客户需提供详细的样品资料，包括元素，主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论，商定最终测试条件；

4.测试人员与顾客通过QQ，微信或邮件沟通，出现测试纠纷，邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据；请加QQ和技术人员交流。QQ：82187958。微信：15071040697

5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品，一经发现将追究其法律责任。