铄思百检测

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射电子显微镜(TEM-EDS)扫描电子显微镜(FESEM-EDS)球差电镜激光共聚焦显微镜(LSCM)原子力显微镜(AFM)电子探针仪(EPMA)金相显微镜电子背散射衍射仪(EBSD)台阶仪,膜厚仪,探针接触式轮廓仪,3D轮廓仪工业CT白光干涉仪(非接触式3D表面轮廓仪)电镜测试FIB制样离子减薄制样冷冻超薄切片制样树脂包埋制样(生物制样)液氮脆断制样金网钼网铜网超薄碳膜微栅制样电镜制样X射线光电子能谱分析仪(XPS)紫外光电子能谱(UPS)俄歇电子能谱(AES)X射线衍射仪(XRD)X射线散射仪SAXS/WAXSX射线残余应力分析仪X射线荧光光谱分析仪(XRF)电感耦合等离子体光谱仪(ICP-OES)紫外可见反射仪(DRS)拉曼光谱(RAMAN)紫外-可见分光光度计(UV)圆二色谱(CD)傅里叶变换红外光谱分析仪(FTIR)吡啶红外(DRIFTS)单晶衍射仪穆斯堡尔光谱仪稳态瞬态荧光光谱分析仪(PL)原子吸收分光光度计原子荧光光度计(AFS)三维荧光 /荧光分光光度计红外热成像仪雾度仪旋光仪椭偏仪光谱测试电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)电喷雾离子化质谱仪(ESI-MS)顶空-固相微萃取气质联用仪(HS -SPME -GC -MS)二次离子质谱(SIMS)基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪(MALDI-TOF)裂解气质联用仪(PY-GC-MS)气质联用仪(GC-MS)同位素质谱仪液质联用仪(LC-MS)质谱测试差示扫描量热仪(DSC)热重分析仪(TGA)热分析联用仪(DSC-TGA)静态/动态热机械分析仪(TMA/DMA)热重红外联用仪(TG-IR)热重红外质谱联用仪(TG-IR-MS)热重红外气相质谱联用(TG-IR-GC-MS)红外热成像仪激光导热仪锥形量热仪(CONE)热谱测试电子顺磁共振波谱仪(EPR、ESR)固体核磁共振仪(NMR)液体核磁共振仪(NMR)微波网络矢量分析仪/矢量网络分析仪核磁顺磁波谱测试比表面及孔径分析仪(BET)表面张力仪(界面张力仪)高压吸附仪化学吸附仪(TPD TPR)接触角测量仪纳米压痕仪压汞仪(MIP)表界面物性测试气相色谱仪(GC)高效液相色谱仪(HPLC)离子色谱仪(IC)凝胶色谱仪(GPC)液相色谱(LC)色谱测试电导率仪电化学工作站腐蚀测试仪介电常数测定仪卡尔费休水分测定仪自动电位滴定仪电化学仪器测试Zeta电位仪工业分析激光粒度仪流变仪密度测定仪纳米粒度仪邵氏 维氏 洛氏硬度计有机卤素分析仪(F,Cl,Br,I,At,Ts)有机元素分析仪(EA)粘度计振动样品磁强计(VSM)土壤分析测试植物分析测试其他测试同步辐射GIWAXS GISAXS同步辐射XRD,PDF,SAXS同步辐射吸收谱-高能机时同步辐射吸收谱之软X射线同步辐射吸收谱之硬X射线同步辐射聚焦离子束扫描电镜(FIB-SEM)矿物定量分析系统MLA球差校正透射电子显微镜高端电镜类原位XPS测试原位EBSD(in situ -EBSD)原位红外原位扫描电子显微镜(in-situ-SEM)原位透射电子显微镜高端原位测试飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)辉光放电光谱(GD-OES MS)三维原子探针(APT)高端质谱类Micro/Nano /工业CT飞秒瞬态吸收光谱仪(fs-TAS)扫描隧道显微镜深能级瞬态谱仪正电子湮灭寿命谱仪其他XPS数据分析XRD全岩黏土分析表面成分分析技术-XPS测试分析常规XRD数据分析成分指纹分析技术-红外测试分析二维红外光谱技术红外(IR)数据分析拉曼数据分析三维荧光数据分析圆二色谱(CD)数据分析成分含量分析EPR/ESR数据分析VSM数据分析电化学数据分析矢量网络数据分析电磁分析CT数据分析X射线吸收精细结构普(XAFS)数据分析穆斯堡尔谱数据分析小角散射(SAXS/WAXS)数据分析高端测试分析固体核磁数据分析液体核磁(NMR)测试+分析一体化液体核磁(NMR)数据分析化学结构分析EBSD数据分析TEM数据分析单晶XRD数据分析晶体结构确证技术-XRD精修XRD定性定量分析晶体结构分析BET数据分析其它数据分析需求热分析数据处理数据分析作图其他数据分析半导体激光器模拟发光二极管仿真光电探测器仿真太阳能电池仿真半导体器件仿真表面能差分密度磁矩单原子催化电荷密度电解水制氢反应(HER)费米面(fermi surface)电子局域化函数(electron localization function)第一性原理分子模拟量子化学相分析有限元模拟常规理化-水样常规理化-土样/沉积物常规理化-气体常规理化-植物/蔬果/农作物常规理化-食品常规理化-肥料/饲料常规理化-岩矿常规理化-垃圾常规理化-职业卫生常规理化-其它常规理化项目纤维素、半纤维素、木质素含量bcr形态顺序提取/tessier五步提取法土壤水体抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非标理化-其它非标理化项目稳定同位素放射性同位素同位素-其它金属同位素同位素多糖的单糖组成测定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化学-常规指标糖化学液质联用LCMS高效液相色谱HPLC气相色谱GC气质联用GCMS全二维气质GC×GC-MS气相色谱-离子迁移谱联用仪(GC-IMS)液相色谱-原子荧光联用(LC-AFS)制备型HPLC色谱质谱数据分析液相色谱-电感耦合等离子体质谱(LC-ICPMS)色谱质谱DOM(FT- ICR- MS)水质NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)数据分析环境高端电池产品整体解决方案正极颗粒表面微观形貌正极颗粒物截面形貌与元素三元正极颗粒循环前后晶界裂纹正极颗粒掺杂元素分布正极颗粒截面元素分布和晶格表征正极极片原位晶相分析正极极片截面元素分布和晶格表征正极表面CEI膜测试方法XPS正极极片截面微观形貌观察和元素分布正极极片CEI膜成分分析与厚度测定正极极片介电常数正极极片浸润性正极极片包覆层观察正极极片杂质含量测定正极极片氧空位测定负极颗粒表面微观形貌观察和元素分布负极颗粒截面微观形貌观察和元素分布石墨类型判定负极颗粒粒径分析负极极片孔洞分析负极颗粒包覆层观察负极颗粒羟基含量测定负极极片包覆层观察负极表面SEI膜分析XPS法负极极片SEI膜成分分析与厚度测定负极极片截面微观形貌观察和元素分布负极极片石墨碳和无定型碳比例隔膜表面微观形貌观察隔膜循环前后孔径变化质子交换膜形貌(厚度)观察 CP+SEM质子交换膜杂质元素电池循环后鼓包气电池循环后爆炸气锂电池极片和集流体间的粘结强度三元正极材料NCM比例燃料电池-整体解决方案电池产品-隔膜电池产品-优势项目正极材料-PH值正极材料-比表面积正极材料-磁性异物正极材料-化学成分正极材料-晶体结构正极材料-粒径分布正极材料-首次放电比容量及首次库伦效率正极材料-水分含量正极材料-松装密度正极材料-未知物分析正极材料-形貌,厚度与结构正极材料-压实密度正极材料-振实密度电池产品-正极材料负极材料-PH值负极材料-比表面积负极材料-层间距 石墨化度负极材料成分分析负极材料-磁性异物负极材料-粉末压实密度负极材料-固定碳含量负极材料-化学成分负极材料-粒径分布负极材料-石墨鉴定负极材料-水分负极材料-限用物质含量负极材料-形貌与结构负极材料-阴离子的测定负极材料-有机物含量负极材料-真密度负极材料-振实密度负极颗粒-石墨取向性(OI值)首次放电比容量及首次库伦效率电池产品-负极材料电解液-电导率电解液-化学元素含量电解液-密度电解液-水分含量电解液-未知物分析电解液-游离酸(HF含量)电池产品-电解液电池产品-隔膜电池产品-隔膜
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费米面(fermi surface)

 
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第一性原理

样品准备须知!!!



1.请务必确认方案内容,最后结果交付以方案内容为准(除却中间有意外,另行沟通情况),凡是在结果交付后,另外补加的要求,需另外评估是否收费。

2.在计算初期确认模型时,请务必仔细认真确认该模型,结果交付后,不接受因为模型问题提出的更改模型的售后要求。

3.请务必确认信息提供准确且没有遗漏,信息尽量提供全面,如果在计算开始以后,又增加信息,视情况协商对原方案的影响以及收费情况。

4.对于软件版权问题,需要自己解决,如果需要我方解决,请提前沟通说明,我们尽量解决,但不必须确保解决,不接受因此不付款的理由。

5.最后结果交付内容包括:计算方法(不是计算结果的分析)的说明,最终的结构文件,某些涉及作图所需的数据。除以上内容之外,有其他要求,请提前说明。交付结果后,另外提出的要求,我们会尽量协助解决,但不保证一定能解决。

6.我们保证计算结果的真实性和有效性,但是无法保证计算结果一定符合您的预期,请务必确认该风险。

7.我们不承担拒稿责任哦,但是我们会尽量协助解决审稿意见的问题,涉及需要补算的内容,需要另评估收费。

8.交付结果后,请在一周内反馈结果问题。长时间不查看结果,结果问题反馈时间距离交付结果时间太久的,我们视情况进行问题的解答(因为源数据不一定还有保留,所以一定要及时反馈哦)。

9.再次提醒:有不懂的可以多交流,但是交付结果后,请不要以“我不懂计算”为理由,提出不对应原方案的另外的要求,我们最终交付结果均以方案为核对参考。



样品测试填写要求注意事项

1.请问您是研究什么方向的呢

电催化、光催化、热催化、电池、半导体、能源、其他

2.是否已经有对接老师和您沟通好需求,现在需要下单了?

已经沟通好需求,现在需要下单、还没有沟通,这是我的新需求

3.请再简单描述下您的计算内容

4.提醒:下单支付完毕才会安排计算,支付完发单号给对接工程师哦


项目简介

第一性原理计算的基本思想是将多个原子构成的体系看成是由多个电子和原子核组成的系统,并根据量子力学的基本原理对问题进行最大限度的非经验性处理。它只需要5个基本常数(m0ehckB)就可以计算出体系的能量和电子结构等物理性质。它可以确定已知材料的结构和基础性质,并实现原子级别的精准控制,是现阶段解决实验理论问题和预测新材料结构性能的有力工具。并且,第一性原理计算不需要开展真实的实验,极大地节省了实验成本,现已被广泛应用于化学、物理、生命科学和材料学等领域。

适合的研究方向包括但不限于:催化、电池、半导体、金属材料、非金属材料、合金、纳米材料等

可以计算的体系包括但不限于:晶体、非晶、二维材料、表面、界面、固体等

常用软件:VASPMSCP2KQE

可以计算的内容包括但不限于:

材料的几何结构参数(如键长、键角、二面角、晶格常数、原子位置等)

材料的电子结构信息(如电荷密度、电荷差分密度、态密度、能带、费米能级、功函数、ELF等)

材料的光学性质(如介电常数等)

材料的力学性质(如弹性模量等)

材料的磁学性质(如磁导率等)

材料的晶格动力学性质(如声子谱等)

材料的表面性质(如吸附能,催化计算等)

复合材料的性质(异质结等内容)等等


费米面(fermi surface)


计算内容

1)定义:费米面是最高占据能级的等能面,是当T=0时电子占据态与非占据态的分界面。

2)作用:通过计算材料的费米面能够获得材料中载流子迁移率、电导、电子比热及脱出功等诸多性质;

Theoretical Fermi surface highlighting the electron pockets (0.1 eV higher than the conduction band minimum) as a function of lattice constant a, the corresponding carrier concentrations are 1.2×1019
cm
-32.0×1019
cm
-3
and 1.7×10
19
cm
-3, respectively.

3)说明:The evolution of Fermi surface predicts a valley convergence at a certain a, as shown in Figure 4b. The valley convergence may strongly enhance the inter-valley scattering, leading to the drop down of carrier mobility. If the inter-valley scattering is dominating, the electrical conductivity will follow the T-1/2
rule. On the other hand, if the electron-phonon scattering from deformation potential is dominating, the electrical conductivity will follow the T
-3/2
rule.We will show that the inter-valley scattering is responsible for the large decrease of carrier mobility in SnSe0.95 + 3%PbBr
2. In Figure 4a, SnSe0.95
+ 3%PbBr
2
exhibits the highest Seebeck coefficient at room temperature, even though it has the largest carrier concentration. This phenomenon also indicates the evolution of F
ermi surface shown in Figure 3b

文献来源:DOI:
10.1039/C9EE03897C

结果展示

原子电荷:




差分电荷:

态密度DOS


投影态密度PDOS


功函数:

能带:


吸附能:


分解能:



迁移能垒:


催化-HER




催化-OER/ORR:

催化-CO2-RR:


样品要求

最好提供晶体结构文件,即cif文件;

或者可以提供与XRD实验数据匹配的PDF卡片信息;

如果是表面结构,还需要提供晶面信息;如结构有改性(空位、掺杂、位错等),还需要说明细节

常见问题

1. 为什么能带计算值一般低于实验值?

这是PBE本身的问题,PBE是一种GGA泛函,有较强的自相互作用问题,导致电子偏向离域、带隙低估等一系列问题。一般计算得到的带隙比实验低30%~50%。这种低估并不是说方法就不可以用,我们还是可以把这个方法拿来做定性分析。

解决办法,方法有DFT+UmBJ+U、杂化泛函

2. 为什么有些体系要加U

测试提示:

1.可开正规测试发票,附带测试清单。

2.有腐蚀性,毒性,或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员,测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤,测试后会对样品产生哪些变化;

3.客户需提供详细的样品资料,包括元素,主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论,商定最终测试条件;

4.测试人员与顾客通过QQ,微信或邮件沟通,出现测试纠纷,邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据;请加QQ和技术人员交流。QQ:82187958。微信:15071040697

5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品,一经发现将追究其法律责任。



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