仪器名称: | 二次离子飞行时间质谱仪(TOF-SIMS) | 型号: | 德国IONTOF TOF.SIMS 5 |
检测项目: | (1)深度分辨率:几个纳米;(2)空间分辨率:<一个微米;(3)质量分辨率:m/m5000(4)检测灵敏度:ppmppb;(5)绝缘层厚度为几个微米的样品质谱分析 |
应用范围: | (1)样品组分和杂质元素纵向分布的深度剖析;(2)样品组分和杂质元素面分布的一维线扫描分析;(3)样品组分和杂质元素面分布的离子图象;(4)多层薄膜样品组分和杂质元素分布及界面情况分析;(5)厚度为几个微米绝缘层样品的深度剖析 |
制样要求: | 粉末样品50mg即可,块状样品长宽1cm以内,厚度5mm以内。 如果样品比较容易氧化或者吸水请提前联系客服,需要真空封装好提前预约时间测试。样品在超高真空下必须稳定,无腐蚀性。建议样品用干净玻璃瓶盛装或铝箔纸包装。 |
PS:送样请附带“委托测试单”。
测试提示:
1.可开正规测试发票,附带测试清单。
2.有腐蚀性,毒性,或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员,测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤,测试后会对样品产生哪些变化;
3.客户需提供详细的样品资料,包括元素,主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论,商定最终测试条件;
4.测试人员与顾客通过QQ或邮件沟通,出现测试纠纷,邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据;请加QQ和技术人员交流:82187958。
5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品,一经发现将追究其法律责任。