PS：送样请附带“委托测试单”。

飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)

u设备型号

德国IONTOF TOF.SIMS 5

u样品准备须知！！！

粉末样品50mg即可（TOF-SIMS 5 iontof型号的设备不测粉末样品），块状样品长宽1.1cm以内，厚度5mm以内，不能太大，小一些没有问题。

粉末样品一定要干燥脱水真空包装邮寄，粉末样品一般不做深度剖析，只做质谱和mapping。

如果样品比较容易氧化或者吸水请提前联系测试负责人，需要真空封装好提前预约时间测试。样品在超高真空下必须稳定，无腐蚀性。

建议，样品用干净玻璃瓶盛装或铝箔纸包装，不要用有黏性的塑料袋/膜，或者粘胶，会有硅油在样品表面的，会遮盖样品表面的信息，TOF测试1-2nm的信息，对表面测试非常灵敏，如因包装问题导出样品表面污染测试出污染的信息，不做处理。

u样品测试填写要求注意事项

1.样品数量：填写需要测试样品的数量

2.样品编号(名称)：请输入该组样品编号，以逗号分隔，例如1,2,3

3.样品形态：粉末/块状/薄膜

4.是否是电池材料：若是电池材料请拆好，电解液洗了，样品干了后，真空包装再邮寄，并说明测试面。

5.样品成信信息：样品具体的成分信息

6.样品是否容易氧化需手套箱制样：容易氧化的样品，在空气中变质的样品，可选择手套箱制样，防止样品氧化，变质。

7.测试项目：质谱1个位置/质谱2个位置/质谱+数据分析/面扫+数据分析/深度剖析+数据分析。

1>.选择质谱测试，数据默认给质谱矫正后的数据，横坐标是M/Z，纵坐标是强度；

2>.选择质谱+数据分析，默认是测试一个位置的，若样品含量低需要找不同位置测试，则按位置收费；

3>.深度剖析需要处理三维图像和深度变化曲线谱图，比较耗费时间，故数据处理必须选择。对数据处理有特别的要求，比如某些离子的颜色有特殊要求，请务必备注清楚。否则后期加工修正，需要额外收取一定的费用。

4>.深度剖析模式提供的2Dmapping图，会有格子效应，效果不好，如果需要清晰的mapping图请选择面扫模式。

所有的数据展示可以看仪器详情数据并分析，分析出对应的原子和分子离子片段。

8.上传TOF-SIMS测试说明：请您下载 "TOF-SIMS测试要求"，详细填写后上传.

u测试提示：

1.可开正规测试发票，附带测试清单。

2.有腐蚀性，毒性，或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员，测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤，测试后会对样品产生哪些变化；

3.客户需提供详细的样品资料，包括元素，主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论，商定最终测试条件；

4.测试人员与顾客通过QQ或邮件沟通，出现测试纠纷，邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据；请加QQ和技术人员交流：82187958。微信：15071040697

5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品，一经发现将追究其法律责任。