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二次离子飞行时间质谱测试（TOF-SIMS）


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仪器名称：	二次离子飞行时间质谱仪（TOF-SIMS）	型号：	德国IONTOF TOF.SIMS 5
检测项目：	（1）深度分辨率：几个纳米；（2）空间分辨率：<一个微米；（3）质量分辨率：m/m5000（4）检测灵敏度：ppmppb；（5）绝缘层厚度为几个微米的样品质谱分析
应用范围：	（1）样品组分和杂质元素纵向分布的深度剖析；（2）样品组分和杂质元素面分布的一维线扫描分析；（3）样品组分和杂质元素面分布的离子图象；（4）多层薄膜样品组分和杂质元素分布及界面情况分析；（5）厚度为几个微米绝缘层样品的深度剖析
制样要求：	粉末样品50mg即可，块状样品长宽1cm以内，厚度5mm以内。如果样品比较容易氧化或者吸水请提前联系客服，需要真空封装好提前预约时间测试。样品在超高真空下必须稳定，无腐蚀性。建议样品用干净玻璃瓶盛装或铝箔纸包装。

PS：送样请附带“委托测试单”。

测试提示：

1.可开正规测试发票，附带测试清单。

2.有腐蚀性，毒性，或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员，测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤，测试后会对样品产生哪些变化；

3.客户需提供详细的样品资料，包括元素，主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论，商定最终测试条件；

4.测试人员与顾客通过QQ或邮件沟通，出现测试纠纷，邮件或聊天记录将作为重要的仲裁依据；请加QQ和技术人员交流：82187958。

5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品，一经发现将追究其法律责任。